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粉塵中游離二氧化硅測定儀

產品型號：TJ270-30/30A
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-01-22
訪問量：5163

簡要描述：

TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀工作環(huán)境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強對粉塵中游離二氧化硅的測定。以往檢測粉塵中的游離二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985規(guī)定的“焦磷酸重量法"[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準確性差,難以滿足批量檢測的要求。

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　　TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀

　　工作環(huán)境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強對粉塵中游離二氧化硅的測定。以往檢測粉塵中的游離二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985規(guī)定的“焦磷酸重量法”[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準確性差,難以滿足批量檢測的要求。

　　為了提高檢測的準確度,實現批量檢測的目的,我公司專業(yè)提供工作環(huán)境中粉塵及煤礦粉塵測定配套設備----游離二氧化硅檢測儀。(符合中華人民共和國國家職業(yè)衛(wèi)生標準GBZ/T 192.4—2007 工作場所空氣中粉塵測定)

　游離二氧化硅測定儀主要特點：

　　在國內*采用計算機直接比例記錄原理

　　采用一塊高能量雙閃耀光柵覆蓋整個工作波段

　　采用高性能計算機進行儀器控制和數據處理

　　WINDWOS中文操作軟件

　　采用USB接口

　　采用國產TGS為接收器，價格低廉，性能可靠。

　　游離二氧化硅測定儀儀器主要數據處理功能：

　　光譜背景基線記憶光譜背景基線校正光譜數據累加運算 %T與ABS轉換

　　光譜數據平滑運算光譜基線傾斜校正光譜文件管理光譜峰值檢出

　　光譜數據微分運算光譜數據四則運算光譜刻度擴展光譜吸收擴展

　　游離二氧化硅測定儀性能指標：

　　波數范圍：4000-400cm-1

　　波數精度：≤±4cm-1(4000-2000cm-1)≤±2 cm-1(2000-400cm-1)

　　分辨能力：1.5cm-1(1000cm-1附近)

　　透過率精度：≤±0.2%T(不含噪音電平)

　　Io線平直度：≤±2%T

　　雜散光：≤0.5%T(4000-650cm-1) ≤1%T(650-400cm-1)

　　測試模式：三種(透過率、吸光度、單光束)

　　掃描速度：五檔(很快、快、正常、慢、很慢)

　　狹縫程序：五檔(很寬、寬、正常、窄、很窄)

　　響應：四檔(很快、快、正常、慢)

　　工作方式：三種：(連續(xù)掃描、重復掃描、定波長掃描)

　　橫、縱坐標擴展：任意

　　TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀配套附件：

　　FW-5粉末壓片機、HF-2壓片模具、KBr藥片架、瑪瑙研缽器、紅外烘烤箱、溴化鉀粉末、十萬分之一天平、高溫電爐、粉塵采樣器(防爆)、α2SiO2標準品:純度在99%以上等

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